Teledyne LeCroy presenta la serie T3DMM que es una familia de multímetros de escritorio digitales de doble pantalla que proporcionan un conjunto de funciones rico y potente. Disponibles en modelos de 4.5, 5.5 y 6.5 dígitos con un modelo adicional de 6.5 dígitos con un escáner incorporado. El diseño es fácil de usar desde el panel frontal y el control basado en computadora a través de USB o LAN. Cada modelo está equipado con una pantalla de color verdadero TFT-LCD de 4.3 pulgadas con resolución de 480 x 272 para una fácil visualización. La serie T3DMM también presenta una visualización de datos numéricos, histogramas, gráficos de tendencias, gráficos de barras y estadísticas, además de las funciones aritméticas integradas, incluidas las estadísticas de medición.
Características
- Disponibles en modelos de 4.5 dígitos (60,000 cuentas), 5.5 dígitos (240,000 cuentas) y 6.5 dígitos (2,200,000 cuentas)
- Las funciones matemáticas incluyen: máximo, mínimo, promedio, desviación estándar, dBm / dB, medición relativa, histograma de aprobado/fallo, gráfico de tendencias, medidor de barras y más.
- Se ofrece un modelo adicional de 6.5 dígitos con una tarjeta de escáner integrada
- Voltaje de CA RMS real y mediciones de corriente
- Soporte para operación de control remoto
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Producto del mercado
Teledyne LeCroy presenta la serie T3DMM que es una familia de multímetros de escritorio digitales de doble pantalla que proporcionan un conjunto de funciones rico y potente. Disponibles en modelos de 4.5, 5.5 y 6.5 dígitos con un modelo adicional de 6.5 dígitos con un escáner incorporado. El diseño es fácil de usar desde el panel frontal y el control basado en computadora a través de USB o LAN. Cada modelo está equipado con una pantalla de color verdadero TFT-LCD de 4.3 pulgadas con resolución de 480 x 272 para una fácil visualización. La serie T3DMM también presenta una visualización de datos numéricos, histogramas, gráficos de tendencias, gráficos de barras y estadísticas, además de las funciones aritméticas integradas, incluidas las estadísticas de medición.
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