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Soluciones de equipamiento de pruebas automatizadas de Omron para sistemas de pruebas de circuitos integrados y manipuladores de pruebas de circuitos integrados
Omron Electronic Components ofrece una amplia gama de relés de señal, interruptores, sensores y conectores que resultan esenciales para los sistemas y manipuladores de pruebas de circuitos integrados. Los relés de señal están diseñados en tamaños compactos para optimizar el espacio de la placa, garantizando un rendimiento constante que aumenta la longevidad de los instrumentos de prueba y las placas de interfaz. Omron fabrica interruptores, conectores y sensores de alta calidad para el mecanismo de manipulación, el panel de control y la tarjeta de interfaz, lo que garantiza productos fiables durante todo el proceso de diseño.
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Alto flujo de corriente
con baja resistencia de encendido -
Baja capacitancia en estado desactivado
por resistencia en estado encendido (CxR) -
Resistencia a altas temperaturas
de 110°C a 125°C -
Bajo estado apagado
de corriente de fuga -
Señal baja
relé electromecánico
Alto flujo de corriente con baja resistencia de encendido
La gama de relés MOSFET diseñada por Omron para el mercado ATE ofrece una alta capacidad de corriente y una baja resistencia a la conexión. Estos encapsulados de pequeño tamaño presentan una resistencia a la conexión tan baja como 0,05Ω y pueden soportar niveles de corriente de hasta 4,5A. Este diseño se ajusta a las exigencias de la conmutación de potencia a la vez que ahorra espacio en la placa.
Aplicaciones:
- Sistema de prueba de CI
- Manipuladores de pruebas de CI
- Sistema de prueba de obleas de semiconductores
- Probadores en circuito
- Probador general
- Equipo de prueba en línea para dispositivos portátiles y piezas de módulos
Baja capacitancia en estado desactivado por resistencia en estado activado (CxR)
Los relés MOSFET presentan baja capacitancia en estado apagado y resistencia en estado encendido (CxR) para satisfacer las necesidades del mercado ATE, con algunos modelos alcanzando un CxR tan bajo como 2 pF·Ω. Estos relés compactos ofrecen un control preciso de la señal, lo que permite velocidades de conmutación más rápidas, reduce la distorsión de la señal y mejora la precisión y la vida útil.
Lógica estándar
- Sistema de prueba de CI
- Manipuladores de pruebas de CI
- Sistema de prueba de obleas de semiconductores
- Probadores en circuito
- Probador general
- Equipo de prueba en línea para dispositivos portátiles y piezas de módulos
Alta resistencia térmica de 110°C a 125°C
La gama de relés MOSFET de Omron incluye modelos que pueden funcionar de forma fiable con dispositivos bajo prueba a temperaturas que alcanzan los 125°C, lo que resulta crucial para el mercado ATE. Estos tipos de encapsulado sin plomo se presentan en varias especificaciones, al tiempo que optimizan el espacio de la placa, lo que los convierte en una excelente opción para aplicaciones de alta temperatura.
Aplicaciones
- Sistema de prueba de CI
- Manipuladores de pruebas de CI
- Sistema de prueba de obleas de semiconductores
- Probadores en circuito
- Probador general
- Equipo de prueba en línea para dispositivos portátiles y piezas de módulos
Baja corriente de fuga en estado apagado
Omron dispone de una selección de relés MOSFET diseñados con una baja corriente de fuga fuera de estado, lo que los hace perfectos para aplicaciones de conmutación de señales de alta precisión. Estos modelos compactos pueden alcanzar una corriente de fuga máxima fuera de estado de sólo 20 pA, lo que ayuda a reducir el ruido que experimenta el dispositivo que se está probando.
Aplicaciones
- Sistema de prueba de CI
- Manipuladores de pruebas de CI
- Sistema de prueba de obleas de semiconductores
- Probadores en circuito
- Probador general
- Equipo de prueba en línea para dispositivos portátiles y piezas de módulos
Relé electromecánico de baja señal
El relé electromecánico de baja señal de Omron presenta un tamaño reducido y un diseño SMT. Existen modelos apantallados para la conmutación por RF, que garantizan una larga durabilidad y una alta fiabilidad de los contactos para mantener la integridad de la señal, todo ello dentro de un tipo DPDT.
Aplicaciones
- Prueba y medición de CI
Estados Unidos